半导体IC封测领域中，在晶圆片未切割成单一颗晶粒前，都需要进行在晶圆片阶段的电性点测，而探针卡搭配各式规格的探针便提供此一功能。
探针是探针卡里重要的核心部件，透过探针与晶圆片上晶粒的电极接触进行电性连接，来达到电性测试检验。
