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垂直式探针规格

半导体IC封测领域中,在晶圆片未切割成单一颗晶粒前,都需要进行在晶圆片阶段的电性点测,而探针卡搭配各式规格的探针便提供此一功能。

探针是探针卡里重要的核心部件,透过探针与晶圆片上晶粒的电极接触进行电性连接,来达到电性测试检验。


A. Cobra Probe:   
探针规格
探针材料P7, H3C, Pd Alloy
针径1.5/2.0/2.5/3.0/3.5 mil
针尖形式平头
针头形式Headed/Headless
其他规格可客制化